EMC測(cè)試:如何保證產(chǎn)品首次即可通過(guò)EMI一致性測(cè)試

電子設(shè)備在投入使用前,需要經(jīng)過(guò)多項(xiàng)測(cè)試,電磁兼容(EMC)測(cè)試是其中重要一環(huán)。EMC包括EMI(干擾)和 EMS(敏感度,抗干擾)兩大項(xiàng),在進(jìn)行EMI一致性測(cè)試時(shí),羅德與施瓦茨公司的 EMI 預(yù)一致性測(cè)試設(shè)備根據(jù)不同行業(yè)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)提供快速、可靠的測(cè)試程序,可以有效降低在認(rèn)證測(cè)試中才檢測(cè)到不合格問(wèn)題的可能性。羅德與施瓦茨的預(yù)兼容測(cè)試設(shè)備基于市場(chǎng)領(lǐng)先的完整EMI一致性解決方案和羅德與施瓦茨的所有EMI專(zhuān)業(yè)測(cè)試知識(shí),能夠盡量保證產(chǎn)品首次即可通過(guò)完整的一致性測(cè)試。

由于電磁環(huán)境包含輻射和傳導(dǎo)能量,EMC也包含輻射和敏感度兩方面。基于此兩方面,EMC問(wèn)題常見(jiàn)發(fā)生于電磁輻射發(fā)射、ESD靜電放電問(wèn)題產(chǎn)生的失效現(xiàn)象。為避免產(chǎn)品認(rèn)證期間太晚檢測(cè)到EMC問(wèn)題,在EMC測(cè)試進(jìn)程中,將EMC程序納入早期設(shè)計(jì)審查,在EMI調(diào)試過(guò)程中積極查找印刷電路板或組件上產(chǎn)生干擾的輻射問(wèn)題,并對(duì)已裝配的產(chǎn)品執(zhí)行預(yù)一致性測(cè)試是可行方法。測(cè)試裝置和測(cè)試程序提供精簡(jiǎn)版的完整一致性測(cè)試,非常適用于獲得與認(rèn)證測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量相關(guān)聯(lián)的有效、可靠的測(cè)試結(jié)果。

在EMC測(cè)試中,預(yù)一致性測(cè)試沒(méi)有規(guī)定測(cè)試裝置,而是模擬一致性認(rèn)證測(cè)試環(huán)境。預(yù)一致性測(cè)試不局限于任何規(guī)則,能夠輕松滿足各種要求,實(shí)現(xiàn)快速、經(jīng)濟(jì)高效的測(cè)量。部分測(cè)試要求保證測(cè)試速度,其他情況則需要一流的測(cè)試精度和可靠性。測(cè)試環(huán)境也存在顯著差異,具體視測(cè)量類(lèi)型(傳導(dǎo)干擾或輻射干擾)而定。

傳導(dǎo)干擾測(cè)量較為簡(jiǎn)單,只需要使用合適的人工網(wǎng)絡(luò)或者電流或電壓探頭。輻射干擾測(cè)量相較于傳導(dǎo)干擾測(cè)量更為復(fù)雜,在測(cè)試中天線和被測(cè)設(shè)備 (DUT) 最少需相隔數(shù)米,而且外部干擾會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。如果沒(méi)有合適的屏蔽室或半電波暗室可用(這種情況很常見(jiàn)),也可以在建筑物內(nèi)無(wú)電磁干擾的場(chǎng)所進(jìn)行測(cè)量,幾乎無(wú)障礙物反射輻射的戶(hù)外場(chǎng)所則更佳。使用頻譜分析儀測(cè)量周?chē)h(huán)境中的頻譜,以盡量降低環(huán)境噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

另一種方法是使用吉赫茲?rùn)M電磁波室 (GTEM),這種設(shè)備可以隔離被測(cè)設(shè)備和外部輻射并削弱反射,與電波暗室相比成本更低、占用空間更小。

測(cè)量裝置可以添加電源線濾波器、隔離變壓器、屏蔽元件或吸收器部件等其他組件,以根據(jù)各種用途而進(jìn)行調(diào)整和改進(jìn)。

電磁敏感度 (EMS) 測(cè)試環(huán)境在很大程度上相當(dāng)于完整的一致性測(cè)試環(huán)境。由于強(qiáng)電磁場(chǎng)的產(chǎn)生受到限制,因此必須在屏蔽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試。所以,預(yù)一致性檢查難以執(zhí)行這些測(cè)試。

由此可見(jiàn),在正式進(jìn)行EMC測(cè)試前進(jìn)行預(yù)一致性測(cè)試是必需步驟,此舉可有效降低出現(xiàn)EMC問(wèn)題的風(fēng)險(xiǎn),保證電子設(shè)備后續(xù)安全使用。

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